O microscópio eletrônico de varredura de bancada tem operação direta da geração de imagens ópticas à do SEM, e análise de elementos

Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada são usados em inúmeros setores, como elétrico, eletrônica, automotivo, máquinas, químico e farmacêutico

A JEOL Ltd. anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM) de bancada, NeoScopeTM série JCM-7000.

Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada são usados em inúmeros setores, como elétrico, eletrônica, automotivo, máquinas, químico e farmacêutico. Além disso, as aplicações do SEM estão sendo ampliadas, não apenas para abranger pesquisa e desenvolvimento, como também para atender a inspeções de produto e controle de qualidade em fábricas. Como resultado, está aumentando a procura por uma eficiência de trabalho ainda melhor, uma operação muito mais rápida e fácil e de um nível mais alto de capacidades de medição e analíticas.

Com base no predecessor premiado e altamente bem-sucedido dos SEMs série InTouchScopeTM, foi desenvolvido um novo SEM de bancada, JCM-7000, para atender às crescentes exigências do mercado. A série JCM-7000 incorpora funções inovadoras, comparáveis às da série InTouchScopeTM. Os recursos da série JCM-7000 incluem: 1) interface gráfica simples para alta operabilidade, 2) pequena área ocupada, 3) transição direta da geração de imagens de microscopia óptica para geração de imagens do SEM com a função “Zeromag”, 4) análise de elementos em tempo real durante a observação de imagens com a função “Live Analysis”, e 5) plataforma motorizada biaxial (X, Y) para uma operação sem intercorrências.

Além disso, o JCM-7000 vem com a função “Live 3D”, que exibe simultaneamente uma imagem do SEM em tempo real e uma imagem de superfície 3D reconstruída em tempo real. Esta nova capacidade também permite ao usuário obter informações topográficas e de profundidade da amostra, juntamente com informações de imagem do SEM a partir da superfície da amostra.

Principais recursos

Com a função “Zeromag”, a navegação nas amostras é ainda mais fácil do que nunca. A “Zeromag”, que vincula a imagem CCD com informações de cor com a imagem do SEM sobre os detalhes da superfície, permite que o usuário encontre rapidamente áreas para geração de imagens e análise.

Com a ajuda de uma plataforma motorizada biaxial (X, Y), a eficiência do trabalho é aprimorada e as imagens para montagem podem ser facilmente coletadas para uma grande área da amostra.

Com a série Analytical (analítica) (função “Live Analysis”), o sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise de elementos rápida e eficiente.

Uma nova função “Live 3D” permite a observação simultânea de uma imagem do SEM e uma imagem de superfície 3D reconstruída em tempo real, juntamente com a aquisição de informações topográficas e de profundidade.

Tags:

JEOL, microscópio eletrônico de varredura

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